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超声波测厚仪

根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的设备

超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，真彩液晶屏---涂层超声波测厚仪售后，脉冲被反射回探头通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

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影响因素

温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低，真彩液晶屏---涂层超声波测厚仪价格，有试验数据表明，热态材料每增加100°c，声速下降1%。对于高温在役设备常常碰到这种情况。应选用高温专门探头300－600°c，切勿使用普通探头。 

层叠材料、复合非均质材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合非均质材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备像尿素高压设备，测厚时要---注意，测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。